Zakończyła się II Krajowa Konferencja Metrologii KKM 2025

W dniach od 26 do 29 maja 2025 r. odbyła się II Krajowa Konferencja Metrologii 2025 (KKM 2025). Po przerwie spowodowanej  ograniczeniami związanymi z COVID 19, kiedy obrady pierwszej edycji odbyły się w trybie zdalnym,  konferencja wróciła do trybu stacjonarnego w miejscu, gdzie odbywała się już przez siedem wcześniejszych edycji jako wydarzenie funkcjonujące pod poprzednią marką pn. Szkoła-Konferencja Metrologia Wspomagana Komputerowo (MWK).

Konferencja KKM2025 została zorganizowane przez Instytut Systemów Elektronicznych Wydziału Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej (WAT) oraz Wojskowe Centrum Metrologii (WCM). Patronat nad Konferencją sprawował Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej Polskiej Akademii Nauk oraz Jego Magnificencja Rektor-Komendant Wojskowej Akademii Technicznej. Działania organizacyjne realizował zespół z Instytutu Systemów Elektronicznych pod kierunkiem przewodniczących Komitetu Naukowego – prof. dr. hab. inż. Andrzeja Michalskiego i dr. hab. inż. Jacka Jakubowskiego (WAT) oraz przewodniczących Komitetu Organizacyjnego – dr. hab. inż. Zbigniewa Watrala (WAT) i płk. mgr. inż. Roberta Targosa (WCM). Obowiązki sekretarza konferencji pełnił dr inż. Rafał Białek (WAT). Zabezpieczeniem logistycznym konferencji zajmowała się mgr Krystyna Dobrowolska (WEL WAT). Trzon Komitetu Naukowego Konferencji stanowili członkowie Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej Polskiej Akademii Nauk.

Krajowa Konferencja Metrologii – KKM, która pod taką właśnie nazwą pojawiła się w przestrzeni wydarzeń integrujących środowisko metrologiczne dopiero po raz drugi, nie jest przedsięwzięciem nowym. Stanowi kontynuację cyklu konferencji Metrologia Wspomagana Komputerowo organizowanych od ponad 20 lat z inicjatywy i przy współudziale śp. prof. Jerzego Barzykowskiego z Wojskowej Akademii Technicznej. Wyróżnikiem wspomnianej ciągłości jest część szkolna Konferencji, czyli część obejmująca cykl zamawianych wykładów, które w tegorocznej edycji  poświęcone były zastosowaniom sztucznej inteligencji w technice pomiarowej. Uczestnicy konferencji mogli wysłuchać 7 wykładów przygotowanych przez specjalistów z Wydziału Cybernetyki WAT, Wojskowego Centrum Metrologii, Politechniki Wrocławskiej oraz Politechniki Warszawskiej. Cykl wykładów został wydany przez Wojskową Akademię Techniczną w postaci monografii pod tytułem „Sztuczna inteligencja w technice pomiarowej”, opracowanej pod naukową redakcją prof. Andrzeja Michalskiego i dr. Jacka Jakubowskiego (240 stron, ISBN 978-83-7938-449-5).
Część konferencyjną KKM stanowił zbiór 38 referatów przedstawiających badania oraz projekty aktualnie realizowane przez różne ośrodki, zaprezentowane w ramach sesji poświęconych cyfrowej technice pomiarowej, sensorom i przetwarzaniu danych sensorycznych, pomiarom w elektroenergetyce, pomiarom w diagnostyce obiektów technicznych i biologicznych oraz zastosowaniom pomiarowym sztucznej inteligencji. W obradach Konferencji uczestniczyło 81 osób, reprezentujących:

• Akademię Górniczo-Hutniczą,
• Akademię Marynarki Wojennej,
• AM Technologies,
• Centralny Wojskowy Ośrodek Metrologii,
• Główny Urząd Miar,
• Politechnikę Koszalińską,
• Politechnikę Rzeszowską,
• Politechnikę Warszawską,
• Politechnikę Wrocławską,
• Specjalistyczny Wojskowy Ośrodek Metrologii,
• Uniwersytet Mikołaja Kopernika,
• Uniwersytet Śląski,
• Urząd Dozoru Technicznego,
• Wojskową Akademię Techniczną,
• Wojskowe Centrum Metrologii,
• Wojskowe Ośrodki Metrologii.

Materiały konferencyjne objęły wydrukowany tom dwujęzycznych streszczeń wydanych na prawach rękopisu oraz pełne teksty referatów na nośniku elektronicznym. Referaty zostały poddane procedurze recenzowania przed zaprezentowaniem ich na konferencji. Referaty pozytywnie ocenione zostały rekomendowane do publikacji we wskazanych przez recenzentów, punktowanych czasopismach krajowych (Metrology and Measurement Systems, Przegląd Elektrotechniczny, Elektronika oraz Biuletyn WAT).

Szkoła-Konferencja KKM 2025 zapewniła uczestnikom możliwość zacieśnienia wzajemnych relacji oraz wymiany doświadczeń w sprzyjającym temu otoczeniu pięknego mazurskiego jeziora. Wartościowym elementem konferencji był panel firmowy oraz ekspozycja sprzętu pomiarowego i aktualnej oferty handlowej przygotowanej przez 2 uczestniczące w konferencji firmy sponsorujące: Gazex-Drzewiecki sp. jawna i NDN Zbigniew Daniluk

Kolejna, III edycja Krajowej Konferencji Metrologii, odbędzie się w roku 2028. Organizatorzy tradycyjnie już planują obrady stacjonarne w ośrodku AMW Rewita w Waplewie i serdecznie zapraszają do uczestnictwa.