EN
PL
Instytut Systemów Elektronicznych Wydziału Elektroniki organizuje w dniach 26-29.05.2025 r. drugą edycję Krajowej Konferencji Metrologii, która odbędzie się w ośrodku wypoczynkowym AMW Rewita Waplewo, m. Maróz k/Olsztynka.
Krajowa Konferencja Metrologii (KKM) adresowana jest do społeczności osób zajmujących się metrologią we wszystkich jej aspektach – praktycznych i teoretycznych. Szczególny nacisk kładziony jest na aspekt edukacyjny wyrażony w części szkolnej konferencji. W ramach wykładów zaproszonych odbędzie się cykl wystąpień pt. „Sztuczna inteligencja w technice pomiarowej”. Pełne wersje wykładów zostaną wydane w formie monografii pod takim właśnie tytułem.
Obszar tematyczny Konferencji zawiera najistotniejsze aspekty współczesnej metrologii, w tym:
- współczesne problemy metrologii ogólnej i teoretycznej,
- metrologia wielkości elektrycznych i nieelektrycznych w makro i nanoskali,
- sensory i systemy pomiarowe,
- kompatybilność elektromagnetyczna,
- cyfrowe przetwarzanie sygnałów i obrazów,
- sztuczna inteligencja,
- diagnostyka techniczna i medyczna,
- Internet rzeczy w metrologii,
- metrologia w Siłach Zbrojnych RP,
- dydaktyczne problemy metrologii.
Organizatorami konferencji są Wydział Elektroniki WAT oraz Wojskowe Centrum Metrologii MON.
Patronat honorowy nad wydarzeniem objął J.M. Rektor – Komendant Wojskowej Akademii Technicznej – gen. bryg. prof. dr hab. inż. Przemysław WACHULAK oraz Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN.